使用介电常数及介质损耗测试仪时需要注意哪些要点？

　　介电常数及介质损耗测试仪是一种多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q值测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。
 

　　1.介电常数介质损耗测试仪测试注意事项
 

　　a.本仪器应水平安放，校准Q值指示的电表机械零点。
 

　　b.如果你需要较地测量，请接通电源后，预热30分钟，再进行测试。
 

　　c.调节主调电容的电容量时，特别注意当刻度调到zui大或zui小值时，不要用力继续再调.
 

　　d.被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差。
 

　　e.被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低耗损的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫。
 

　　f.手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。
 

　　2.介电常数介质损耗测试仪高频线圈的Q值测量(基本测量法)
 

　　A.直接法
 

　　a.将按测线圈接在“Lx”接线柱上；
 

　　b.选择适当的工作频段和工作频率；
 

　　c.将付调电容调至0；
 

　　d.调主调电容器到远离谐振点(使Q值电表指示zui小)；
 

　　e.先调主调电容器到谐振，再调微调电容器到的谐振点；即Q表读数达zui大，此读数即为被测电感的有效Q值(Qe)，若需得到被测电感的真实Q值(Qt)，则应先测出线圈分布电容C0，然后照下式修正：
 

　　C1是主调电容器谐振时读数(微调电容读数合计在内)，如谐振时C1的读数很大，C0只占很小比例，则有效Q值(Qe)和真实Q值(QT)差别可以忽略。
 

　　因Q值量程是自动切换的，因此在调谐时，如遇量程自动转换，应停顿一下，待Q值稳定后，根据读数值变大或变小，确定继续调电容的方向。
 

　　B.变容法
 

　　a.照直读法“a-f”进行，记下谐振时电容读数C1和Q1；
 

　　b.转动主调电容，使Q值二次指示均为Q1的0.707时，记下此时两次电容读数的差数ΔC。
 

　　倘要得到结果，则线圈的分布电容应加在C1之内，并应使主调电容作多次偏调，然后取其平均读数。
 

　　测Q值较高的线圈时，Q值下降到0.707 Q1时，电容偏调很小，读数误差较大，这时可将主电容作较大偏调(10%以内)，记下偏调数ΔC和偏调后的Q值读数Q2，这时Q值表达式为：
 

　　C.变频法
 

　　a.按享读法“a-f”进行，在频率监视插座上接上精度优于
 

　　1×10-6的数字式频率计数器，记下谐振时读数C1和Q1以及频率读数f0。
 

　　b.改变信号源的频率使Q值二次指示为Q1的0.707(一次容性失谐，一次感性失谐)，记下此时二次频率读数差值Δf。这时回路的真实QT为：
 

　　考虑到线圈的分布电容时，线圈的有效Q值为：
 

　　变频法测量Q值一般表达式(未考虑分布电容)：
 

　　注：Δf是频率偏调数，Q1为谐振时Q表读数，Q2是偏调后Q表读数。
 

　　3.高频线圈电感值的测量
 

　　a.将被测线圈接在“Lx”接线柱上，接触要良好；
 

　　b.根据线圈大约电感值，在面板对照表上选择一标准频率，然后将讯号发生器调节到这一点标准频率上；
 

　　c.微调电容刻度放在“0”上，调节主调电容到谐振，这时刻度盘所指的电容数为C1，度盘上所指电感值，乘以对照表上所指的倍数，就是线圈有效电感值(L)；
 

　　d.如要得到真实电感数(LT)，必须先测得电感分布电容量C0，如分布电容较小的话，在调到谐振点后，记下主调电容C1，然后再将主调电容量调在“C1+C0”值上，这时度盘的电感读数乘以对应的倍数，就是所求真实电感读数，也可按以下公式计算求得：
 

　　f被测电感小于1μH时，按上法测得电感值还应减去仪器中测试回路本身剩余电感“L0”(本仪器L0=0.027μH)。